近日，广东皓天检测仪器有限公司与国内头部半导体晶圆厂达成重大合作，100 台高性能冷热冲击试验箱陆续完成交付，全面服务于车规级、工业级芯片的可靠性测试环节，标志着国产测试设备在半导体制造领域实现规模化应用突破。

此次交付的冷热冲击试验箱，是芯片可靠性验证的核心装备。其采用三箱式独立循环结构与 PID 智能控温算法，可实现 - 70℃至 150℃的超宽温域覆盖，温度控制精度达 ±0.5℃，能精准模拟芯片从极寒户外到高温机房的工作环境。更值得关注的是，设备高低温切换最短仅需 5 秒，远超行业常规速度，可高效复现温度骤变场景下的热应力冲击，精准检出封装分层、焊点开裂等潜在缺陷。

在实际测试场景中，冷热冲击试验箱通过 500 次以上高低温循环，对 7nm 工艺晶圆进行 “压力测试”：先在 150℃高温区保温 30 分钟，再 10 秒内切换至 - 65℃低温区，全程监测芯片电气参数与结构稳定性。借助设备提供的精准数据，晶圆厂已成功优化封装工艺，使芯片在温度冲击下的故障率降低 30%。